X熒光光譜儀（XRF）由激發(fā)源（X射線管）和探測系統(tǒng)構(gòu)成。X射線管產(chǎn)生入射X射線（一次X射線），激發(fā)被測樣品，產(chǎn)生X熒光（二次X射線），探測器對X熒光進行檢測。

 

X熒光光譜儀在陽光直射的高溫，高日照量的情況下也能保持高性能的特點，這得益于儀器設計中充分考慮低功耗及X射線管高溫的及時排放，所以它可承受惡劣的工作環(huán)境。它的可分析元素可從從鎂礦（Mg）到钚礦（Pu）之間的所有83種自然礦石，包括重金屬礦石Au、Pt、Ag、Ru、Rh、Pd等。對高品位、精選礦石精確的品位評定，提供礦石采集、收購價值依據(jù)，也可對礦渣、尾礦中殘存的礦石元素分析，再次判定其價值在礦石開采過程，搪孔過程，研磨、濃縮和熔煉過程中進行品檢，確定品位，對濾熔池、存儲塘和鋼槽溶液進行分析，快速普查超大范圍的礦區(qū)，有效地測定地帶模式，繪制礦山圖、實時勘察現(xiàn)場、快速追蹤礦化異常、有效地尋找“熱點”地帶，圈定礦體邊界有重要作用。而通過對輸送料、精礦、礦渣進行現(xiàn)場分析以確定、跟蹤提煉或者濃縮過程的有效性有很大的保障。

 

X熒光光譜分析儀還可以對礦場描繪以及品位控制。通過實時就地分析多個樣本，實現(xiàn)對開采計劃進行指導，有效地管理挖掘、爆破工作，在現(xiàn)場確定土壤、沉積物或者鉆孔樣本的地質(zhì)成分，以有效控制勘探成本。它也能夠?qū)ΦV石、礦渣、土壤、沉積物以及其他類似的樣品進行快速的金屬元素含量分析。無論是進行原地檢測還是非原地檢測，功能強大的計算軟件能夠自動消除由于不同樣品的材質(zhì)差異所造成的偏差，從而使操作者僅需將儀器探測頭直接接近樣品便可進行檢測，而無需其他任何數(shù)據(jù)輸入或者進行再次校準。根據(jù)對檢測精度的不同要求，測試時間僅需數(shù)秒到數(shù)分鐘。

 

此外，X熒光光譜分析儀能夠快速分析礦石樣本、精礦、礦渣的金屬元素成分。允許用戶通過運用特殊校正因子來進一步提高檢測精度。它對礦山原場地所采集的礦石樣品可以直接測試，但這會影響到元素的品位值，因為元素在礦石中的含量分布不均勻，儀器所測試的點不能代表整個礦石，理想的分析效果要求我們對礦石樣品進行烘干，研磨（160目以上） ，攪拌均勻后再測試，對于含量幾個PPM級的元素，測試時間長些，相應的精度也會跟著提高。